Neue Maß­stä­be in der ED-RFA-Ele­ment­ana­ly­se gesetzt

Spec­tro Ana­ly­ti­cal Instru­ments hat die Ein­füh­rung der neu­en Genera­ti­on des ener­gie­di­sper­si­ven Rönt­gen­fluo­res­zenz-Spek­tro­me­ters (ED-RFA) SPECTRO XEPOS bekannt­ge­ge­ben. Die neue Modell­rei­he stellt einen Quan­ten­sprung in der ED-RFA-Tech­no­lo­gie dar und ermög­licht bahn­bre­chen­de Fort­schrit­te bei der Mul­ti-Ele­ment-Ana­ly­se unter­schied­li­cher Kon­zen­tra­tio­nen – bis hin zu Spurenelementen.

Durch neue Ent­wick­lun­gen im Bereich Anre­gung und Detek­tor­tech­no­lo­gie bie­tet das SPECTRO XEPOS eine außer­ge­wöhn­li­che Mess­emp­find­lich­keit und extrem nied­ri­ge Nach­weis­gren­zen – mit bemer­kens­wer­ter Ver­bes­se­rung von Prä­zi­si­on und Genau­ig­keit. Ins­be­son­de­re bei anspruchs­vol­len Auf­ga­ben spielt das SPECTRO XEPOS sei­ne Stär­ken aus – egal ob es dabei um schnel­le Über­sichts­ana­ly­sen von Umwelt- und Abfall­pro­ben oder um anspruchs­vol­le Anwen­dun­gen in For­schung, Wis­sen­schaft und Geo­lo­gie geht. Es ermög­licht prä­zi­se Qua­li­täts­kon­trol­len für eine Fül­le von Anwen­dun­gen, bei­spiels­wei­se in den Berei­chen Petro­che­mie, Che­mie, Klinker/Zement/Schlacke, Kos­me­ti­ka, Nah­rungs- und Fut­ter­mit­tel, Phar­ma­zie und vie­len mehr.

Das neue SPECTRO XEPOS bie­tet eine Rei­he von Vorteilen:

• Spek­ta­ku­lä­re Mess­emp­find­lich­keit: Inno­va­tio­nen im Bereich der adap­ti­ven Anre­gung, der Rönt­gen­röh­re und der Detek­tor­tech­no­lo­gie haben die Mess­emp­find­lich­keit deut­lich ver­bes­sert – oft­mals um den Fak­tor 10 oder mehr. Die­se außer­ge­wöhn­li­che Emp­find­lich­keit ist die Basis für hohe Prä­zi­si­on und deut­lich nied­ri­ge­re Nach­weis­gren­zen. Auf die­se Wei­se erhält der Anwen­der eine schnel­le und genaue Ana­ly­se eines brei­ten Ele­ment­be­reichs, von Natri­um bis Uran.
  Zusam­men mit dem leis­tungs­fä­hi­gen Detek­tor, dem neu­en Röh­ren­de­sign, der hohen Mess­emp­find­lich­keit und dem nied­ri­gen Unter­grund ermög­licht die pro­prie­tä­re adap­ti­ve Anre­gungs­tech­no­lo­gie außer­ge­wöhn­lich nied­ri­ge Nach­weis­gren­zen für eine gro­ße Band­brei­te an Elementen.

• Unver­gleich­li­che Prä­zi­si­on: Anders als die meis­ten ande­ren ED-RFA-Gerä­te ver­folgt das SPECTRO XEPOS das Prin­zip, die Rönt­gen­röh­re zwi­schen den Mes­sun­gen in Betrieb zu las­sen, um zu ver­mei­den, dass sich Schwan­kun­gen durch Ein- und Aus­schal­ten auf die Mes­sung aus­wir­ken. Dies ermög­licht eine exzel­len­te Lang­zeit­sta­bi­li­tät und eine außer­ge­wöhn­lich hohe Prä­zi­si­on – und zwar bis zu drei­mal bes­ser als zuvor. Zusam­men mit der höhe­ren Mess­emp­find­lich­keit ist dies die Grund­la­ge für eine deut­lich höhe­re Genau­ig­keit der Ana­ly­se, von Spu­ren­ele­men­ten bis hin zu höhe­ren Konzentrationen.

• Schnel­le­re Mes­sun­gen: Für eini­ge Anwen­der hat Geschwin­dig­keit eine höhe­re Prio­ri­tät als äußers­te Prä­zi­si­on. Sie haben mit dem SPECTRO XEPOS nun die Wahl: Sie erhal­ten ein Gerät, das ihnen wesent­lich kür­ze­re Mess­zei­ten ermög­licht – bei einer Prä­zi­si­on, die immer noch mit der eines her­kömm­li­chen ED-RFA-Spek­tro­me­ters ver­gleich­bar ist. Durch die hohe Geschwin­dig­keit des Sys­tems sind Ana­ly­sen der meis­ten Pro­ben inner­halb weni­ger Minu­ten abgeschlossen.

Die voll­kom­men über­ar­bei­te­te Ana­ly­se­soft­ware bie­tet Kom­fort und Funk­tio­na­li­tät, wäh­rend das ein­zig­ar­ti­ge, neue Tur­bo­Quant II Ana­ly­tik­pa­ket schnell und prä­zi­se unbe­kann­te Flüs­sig­kei­ten, Pul­ver und Fest­stof­fe aller Art ana­ly­siert. Auch die Kos­ten spre­chen für das SPECTRO XEPOS: Im Ver­gleich zu einem wel­len­län­gen­di­sper­si­ven Rönt­gen­fluo­res­zenz­ge­rät (WD-RFA) ist es deut­lich kos­ten­güns­ti­ger und erbringt in vie­len Anwen­dungs­be­rei­chen WD-Leis­tung zum ED-Preis.

Der optio­na­le AMECARE M2M (Maschi­ne-zu-Maschi­ne) Sup­port erwei­tert die Selbst­dia­gno­se-Funk­tio­nen des Geräts um pro­ak­ti­ve Warn­si­gna­le. Dar­über hin­aus besteht eine direk­te Ver­bin­dung mit einem Ser­vice-Exper­ten von SPECTRO.

Die neue Modell­rei­he des SPECTRO XEPOS ED-XRF-Spek­tro­me­ters ist ab sofort über SPECTRO Ana­ly­ti­cal Instru­ments erhält­lich. Dabei bie­ten vier fort­schritt­li­che Modell­va­ri­an­ten die Mög­lich­keit, Prio­ri­tä­ten zu set­zen: Maxi­ma­le Mess­ge­schwin­dig­keit, höchst­mög­li­che Prä­zi­si­on oder eine Opti­mie­rung für ganz bestimm­te Grup­pen von Ziel­ele­men­ten in vor­ge­ge­be­nen Probenmatrices.