Fokus auf Metrologie

Der dies­jäh­ri­ge Mes­se­auf­tritt von YXLON wird sich in ers­ter Linie um das The­ma Metro­lo­gie mit Com­pu­ter­to­mo­gra­fie dre­hen. So wird als Haupt­at­trak­ti­on eine neue Ver­si­on der CT-Sys­te­me YXLON FF20 CT und YXLON FF35 CT vor­ge­stellt, die gezielt Mess­tech­ni­ker anspricht.

Der Vor­teil von CT-Sys­te­men in der Mess­tech­nik ist, dass im Gegen­satz zu opti­schen und tak­ti­len Ver­fah­ren auch inne­re Struk­tu­ren und Mate­ri­al­grenz­flä­chen hoch­ge­nau gemes­sen wer­den kön­nen. Das voll­au­to­ma­ti­sche, norm­ge­rech­te Annah­me­ver­fah­ren nach VDI/VDE 2630–1.3 gewähr­leis­tet die Rück­führ­bar­keit des Sys­tems: die Mess­ab­wei­chun­gen vom kali­brier­ten YXLON-Norm­prüf­kör­per wer­den auto­ma­tisch ermit­telt und doku­men­tiert. Auf dem Gesund­heits­mo­ni­tor wird neben dem Sta­tus der Sys­tem­kom­po­nen­ten auch farb­lich die Mess­be­reit­schaft signa­li­siert. Die ver­wen­de­te Prä­zi­si­ons­me­cha­nik mit gra­nit­ba­sier­tem Mani­pu­la­tor, die Län­gen­maß­stä­be und das Win­kel­mess­mo­dul am Dreh­tisch erfül­len höchs­te Ansprü­che an die Genau­ig­keit. Auch die Tem­pe­ra­tur­sta­bi­li­sie­rung im Prü­f­raum des CT-Sys­tems wur­de für den Ein­satz in der Mess­tech­nik opti­miert: so befin­det sich der Küh­ler außer­halb der Kabi­ne und kann bei Bedarf auch in einen sepa­ra­ten Raum aus­ge­la­gert wer­den. Im Prü­f­raum wird der Tem­pe­ra­tur­be­reich der Mess­raum­klas­se 3 erreicht und somit der Ein­fluss von Mate­ri­al­aus­deh­nung minimiert.

Neben wei­te­ren Ver­bes­se­run­gen der gra­fi­schen Ober­flä­che für die Touch-Bedie­nung ist die kom­for­ta­ble und sehr schnell aus­führ­ba­re „Ein-Schicht-Rekon­struk­ti­on“ ein gro­ßer Gewinn. Hier­mit las­sen sich Kor­rek­tu­ren und Ein­stel­lun­gen in kür­zes­ter Zeit an einer ein­zeln rekon­stru­ier­ten Schicht über­prü­fen und opti­mie­ren. Im Anschluss bie­tet der voll­stän­di­ge Daten­satz mit hoch­ge­nau­en Ober­flä­chen unbe­grenz­te Mess-Mög­lich­kei­ten auf­grund der kom­plett erfass­ten, nahe­zu unend­li­chen Mess­punk­te­dich­te. Dafür wer­den wei­te­re Soft­ware­pa­ke­te der­art unter­stützt, dass nach dem CT-Scan auto­ma­tisch das 3D-Volu­men gela­den sowie ein Mess-Makro aus­ge­führt wer­den kann.

Aber auch die YXLON MU2000‑D kommt mit ihrer CT-Opti­on auf der Mes­se zum Ein­satz. Das uni­ver­sel­le Rönt­gen­sys­tem ist seit 1997 erfolg­reich im Markt und mitt­ler­wei­le 600-mal ver­kauft. Es wur­de im Lau­fe der Jah­re kon­ti­nu­ier­lich mit den letz­ten Ent­wick­lun­gen im Bereich der Rönt­gen- und CT-Tech­no­lo­gie auf­ge­rüs­tet und damit auf dem aktu­el­len Stand der Tech­nik gehal­ten. Die neu­en Fea­tures und Mög­lich­kei­ten des Sys­tems wer­den eben­falls auf der Con­trol prä­sen­tiert. Und auch das Mikro­fo­kus­sys­tem YXLON Che­e­tah, das vor­zugs­wei­se im Elek­tronik­be­reich ein­ge­setzt wird, hat auf dem Stand sei­nen Platz.

YXLON auf der Con­trol 2017: Hal­le 3 – Stand 3308